X, Y 電容器的泄漏電流
相信大家對漏電流都很了解，電流單位安培，學生時代物理課有提到的。但是X，Y電容的漏電流標準有誰清楚呢？電容器行業漏電流遵循的標準是多少呢？供應廠商怎樣去管控漏電流呢？帶著這些問題，穎特新電子工程查找了很多資料，現在來一一解謎。
電解質電容器、鉭電容器若其電解液干涸，其氧化膜破壞得厲害(氧化膜的晶化)，故泄漏電流會急劇上升，所以會定泄漏電流的規格，以判斷電容器是否正常。
而一般塑膠膜電容器及陶瓷電容器的標準(IEC60384-8/ GB/T 5966, IEC60384-9/ GB/T 5968)，或安規塑膠膜電容器(X電容)及陶瓷電容器(Y電容)的標準(如IEC 60384-14/GBT 6364.14)都無泄漏電流特性要求。
以上所顯示，關于X電容或Y電容，國際間都未定義泄漏電流(Leakage Current)的產業標準，制造業者難以遵循。民間使用者偶而會提起這個議題，但翻閱電容器國際大廠的目錄，諸如AVX、Mallory及Murata三個公司，也只有Murata有提供其安規Y電容的漏電流特性曲線，表示其某幾種Y電容對應工作電壓高低時的漏電流變化。
AVX的目錄就只有說明電容器泄漏電流的理論值應參照歐姆定律 I = E/R計算 (Leakage current is determined by dividing the rated voltage by IR), 以上式歐姆定律電流公式改成泄漏電流公式即成：
IL = UR / IR
IL：泄漏電流, 單位是A, 常以豪安(mA)為計算單位
UR：電容器額定工作電壓表示, 單位是V
IR：絕緣電阻, 單位是歐姆Ω, 常以百萬歐姆(MΩ)為計算單位
至于X電容或Y電容在制造程中的耐電壓測試時會設定漏電流的極限值(交流電路), 與依歐姆定律而設計的漏電流表(直流電路)所得的漏電流值會不同。參考「安規網http://bbs.angui.org/thread-127115-1-1.html」的議題:「泄漏電流測試與耐壓測試的漏電流原理有什么不同」一文, 是這樣解釋的：
『原理都一樣，都是絕緣本身的漏電與分布電容引起。因為電壓相差很大，絕緣在不同電壓下會有不同的值，兩者不一定呈現線性關系。對于標準的規定來說，泄漏電流要求使用測試網絡并在規定的模式下測試，更甚者如AV標準，要求測試設備要有很高的頻率帶寬，并且是給出峰值，這些與耐壓試驗時出現的漏電流顯得不一樣。耐壓試驗儀上的漏電流示值只用來告訴你耐壓儀在工作中，也用于識別出異常的產品，其設置值只反映漏電流到達這個值就報警并視為擊穿，這并不意味著絕緣真的發生擊穿現象，這就是我們常說的假擊穿。
雖然都叫漏電流，但是還是有很大差異，漏電流測試的電流，就是初級電路通過Y電容等耦合過來的。是有相關限值要求。耐壓測試的那個漏電流也叫擊穿電流，只是一個名稱，和漏電流測試完全沒關系。
再翻開百度百科，關于電容器的漏電流是這樣解釋的：
『電容介質不可能絕對不導電，當電容加上直流電壓時，電容器會有漏電流產生。若漏電流太大，電容器就會發熱損壞。除電解電容外，其他電容器的漏電流是極小的，故用絕緣電阻參數來表示其絕緣性能；而電解電容因漏電較大，故用漏電流表示其絕緣性能（與容量成正比）。
對電容器施加額定直流工作電壓將觀察到充電電流的變化開始很大，隨著時間而下降，到某一終值時達到較穩定狀態這一終值電流稱為漏電流。
其計算公式為：i=kcu(μa)；其中k值為漏電流常數，單位為μa(v·μf)。』
至于”論壇”網頁接露的漏電流，是整個裝置的漏電流，與電源初次回路接上的Y電容容量大小有關系，看其論說：
『一、Y-CAP 的容值與安規漏電流之關系: 漏電流 = 輸入電壓 / Y 電容容抗 [ 2 * (圓周率) * (輸入電壓周期) ]
1.安規要求漏電流小于 3.5 mA. (CLASS I 指 3 PIN 有接地產品)
2.安規要求漏電流小于 0.75mA. (手持式產品)
3.安規要求漏電流小于 0.25mA. (CLASS II指 無接地產品)
4.日本安規要求漏電流小于 0.25 mA. (CLASS II指無接地產品)
5.要注意其總容量與漏電流之關系.簡易速算法: 1000 pF = 0.1 mA.
2PIN與3PIN差別,簡單地說,就是一個沒有地,一個有地,所以前者比后者少了一根線.
2PIN沒有地線,要求極其嚴格,所以是0.25mA
3PIN有地線,對于高頻的干擾,加上Y電容之后,高頻信號是有良好的接地回路進行釋放的,所以比較好處理一點.但是Y電容加上去,漏電流就加大了.而且容值越大,漏電流也就越大.這里要求是0.75mA.Y電容容值也不要超過10nF.一般取值2.2nF,實在不行的時候4.7nF.
對于2P的ADAPTER,必須小于0.25mA
對于3P的ADAPTER,必須小于0.75mA』
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編輯：admin 最后修改時間：2018-02-26
